Měření tenkých vrstev
Předmětem zájmu čtyř příspěvků je grafická interpolační metoda pro určení indexu lomu, indexu absorpce a tloušťky tenké slabě absorbující vrstvy z elipsometrických měření, výpočet optických konstant i tloušťky zmíněné vrstvy,měření tloušťky tenkých dielektrických (napařených kryolitových) vrstev optickými metodami a … celý popis
Uloženo v:
Podrobná bibliografie
- Hlavní autor
- Typ dokumentu
- Knihy
- Fyzický popis
- 53 s. ; 8°
- Vydáno
-
Brno :
Univerzita J.E. Purkyně,
1969
- Vydání
- 1. vyd.
- Edice
- Folia Facultatis scientiarum naturalium Universitatis Purkynianae Brunensis. Physica
- Popis jednotky
- 500 výt.
- Bibliografie
- Obsahuje bibliografie
- Navrhnout k digitalizaci
- Navrhnout k digitalizaci