Interpolační metoda pro určení technických parametrů z elipsometrických měření
Uloženo v:
Podrobná bibliografie
- Hlavní autor
- Další autoři
- Typ dokumentu
- Knihy
- Fyzický popis
- s. 311-316
- Vydáno
-
Brno :
Universita J.E. Purkyně,
1970
- Edice
- Spisy přírodovědecké fakulty University J.E. Purkyně v Brně. Řada C ;
20, č. 516, 8/1970
- Bibliografie
- Obsahuje bibliografii
- Navrhnout k digitalizaci
- Navrhnout k digitalizaci
Obsah:
- Metody stanovení optických konstant z intenzity odraženého světla / Eduard Schmidt. s. 317-326
- Using rotoreflection for the measurement of the optical properties of germanium and silicon / Eduard Schmidt. s. 327-334
- Optimization of ellipsometric measurements / Eduard Schmidt. s. 335-341
- Ellipsometric method of the determination of the optical constants / František Lukeš. s. 343-350
- Vibračně-rotační inverze dvouatomových molekul v nízkoteplotním neizometrickém plazmatu / Jan Janča. s. 351-357
- Methods of X-Ray diffraction topography / Vladka Stejskalová. s. 359-370